方塊電阻測試儀/電阻測試儀 型號：GSZ-ST-21
方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度的點。
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